“Analisis Penyebab Defect Pada Produk Wafer Roll Dalam Proses Pengemasan Di PT. XYZ Menggunakan Metode Failure Mode and Effect Analysis (FMEA)”. Jurnal Sains Dan Teknologi: Jurnal Keilmuan Dan Aplikasi Teknologi Industri, vol. 25, no. 2, Dec. 2025, pp. 398-11, https://doi.org/10.36275/533nxz68.